SC-E大米外觀品質檢測儀用于各種類大米(精米、糙米、糯米等)各項外觀品質指標的自動檢測,可進行多參數、批量化的自動分析。
SC-E大米外觀品質檢測儀組成:雙光源掃描成像儀及附件、分析軟件和電腦(電腦另配)。
技術參數:
硬件規格 |
光學分辨率 | 4800×9600 dpi |
根系透掃幅面(mian)積 | 30 cm×20 cm |
小(xiao)像素尺寸(cun) | 0.0053mm ×0.0026 mm |
軟件功能 |
分析測量 | 可自動(dong)一次性測量(liang)(liang)分析(xi)30g以(yi)上(shang)大米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)樣品的(de):堊白度(du)/率(lv)(lv)(lv)(lv)、碎(sui)米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)率(lv)(lv)(lv)(lv)及(ji)(ji)小碎(sui)米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)率(lv)(lv)(lv)(lv)、整精米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)數量(liang)(liang)、整精米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)率(lv)(lv)(lv)(lv)、大米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)透(tou)明度(du)、黃(huang)粒(li)(li)米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)、雜質量(liang)(liang)、異品種粒(li)(li)、不完善粒(li)(li)(未(wei)成熟粒(li)(li)),及(ji)(ji)糯米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)的(de)陰(yin)米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)率(lv)(lv)(lv)(lv)、病(bing)斑或黃(huang)變率(lv)(lv)(lv)(lv)。還可自動(dong)分析(xi)大米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)的(de)碾米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)精度(du)、裂紋(wen)率(lv)(lv)(lv)(lv),以(yi)及(ji)(ji)糙米(mi)(mi)(mi)(mi)(mi)胚芽率(lv)(lv)(lv)(lv)。 自動測(ce)量每粒的面積、長(chang)徑、短徑、長(chang)寬比(bi)、圓度、等效直徑(長(chang)度測(ce)量誤差(cha)(cha)≤±0.05mm,長(chang)寬比(bi)測(ce)量誤差(cha)(cha)≤±0.05,重(zhong)現性誤差(cha)(cha)≤±0.02;整精米(mi)率、碎米(mi)率指標測(ce)量誤差(cha)(cha)≤±1.0%、重(zhong)現性誤差(cha)(cha)≤±0.25%)。 可大批量(liang)自動分(fen)析處(chu)理(li)與輸出結果。與國標(biao)(biao)GB/T1350稻谷(gu)、GB/T17891優質稻谷(gu)或(huo)GB1354大米、農(nong)業部(bu)新標(biao)(biao)準【大米】NY/T2334-2013等標(biao)(biao)準相對應,檢(jian)測各項指標(biao)(biao)的重(zhong)量(liang)比和粒數比。 各(ge)分析圖像、分布圖、結果數(shu)據可(ke)保存,分析結果輸出(chu)至(zhi)Excel表,可(ke)輸出(chu)分析標記圖。 具有(you)自(zi)動學習與識別特性,可自(zi)動分(fen)割粘(zhan)連(lian)的大(da)米、種粒,可做自(zi)動分(fen)類分(fen)析。 具有樣本條碼、電(dian)子天平RS232數據軟件接(jie)口。可(ke)兼測的種粒直徑范(fan)圍0.3-20mm(厚(hou)15 mm),自動測量精度≥99%,交互修正后準(zhun)確(que)率(lv)達100%。
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產地:中國