用途：HemiView數字植物冠層分析系統通過處理影像數據文件來獲取與冠層結構有關的，例如葉面積指數、光照間隙及間隙分布狀況。通過分析輻射數據的相關信息，能夠測算出冠層截獲的PAR以及冠層下方的輻射水平。其軟件可以計算輻射指標、冠層指標、測量地點的光線覆蓋狀況及直射與漫射光的分布等。

HemiView數字植物冠層分析系統原理：使用180度魚眼鏡頭和高清晰度數碼相機從植物冠層下方或森林地面向上取像, 再將數碼相機的高清晰度影像載入軟件，進行分析處理。

技術規格：

輸出參數：

·天空(kong)幾何：質心，立(li)體角和(he)像素計(ji)算用于每個(ge)天空(kong)扇區；

·間隙粒(li)級：比例的可見天空扇區；

·葉面(mian)積指數：天空扇區或全(quan)部數值；

·太陽輻射：直射和(he)散射，冠(guan)層上方和(he)下方，能量(liang)或質量(liang)單位；

·位置因數：直接，間(jian)接（散射），全部(bu)；

·時(shi)間(jian)(jian)序列和(he)Sunflecks：可查看日(ri)期的(de)日(ri)盤（半陰影作用）和(he)太陽輻射，用戶自定義的(de)采樣間(jian)(jian)隔時(shi)間(jian)(jian)或sunfleck順序

·可選(xuan)余弦修正：可用任何(he)方位的截取表面；

·全(quan)部(bu)數值(zhi)(zhi)：大部(bu)分輸出(chu)能將天(tian)空扇(shan)區表格化，集合(he)到單個全(quan)天(tian)空或年數值(zhi)(zhi)中(zhong)。

特點：

·交互式圖(tu)示定位(wei)工具：記錄(lu)的圖(tu)像(xiang)半(ban)球(qiu)縱坐標系(xi)統。補償(chang)磁場偏差；

·支持圖像(xiang)分類(lei)：強(qiang)度區分界限和干擾像(xiang)素。圖像(xiang)按照實時(shi)更(geng)新分類(lei)；

·圖(tu)像(xiang)可多重和拆分查(cha)看：分類和色彩/灰色等比率查(cha)看，或將整幅圖(tu)像(xiang)拆分開瀏覽(lan)；

·圖(tu)像底(di)片：圖(tu)像可轉(zhuan)換為底(di)片模式進行查看(kan)和分析；

·可給不同的天空區域(yu)定義號碼(ma)：天頂(ding)角和方位角定義范圍；

·單個樹的葉面積：直接可通(tong)過(guo)HemiView輸出單個樹的LAI；

·分(fen)析局部圖(tu)像：可(ke)以將圖(tu)像中不需(xu)要參與分(fen)析的(de)部分(fen)排除；

·地(di)點(dian)，鏡頭和太(tai)陽模(mo)(mo)型的參數：用(yong)戶(hu)可設定(ding)地(di)點(dian)，鏡頭和太(tai)陽模(mo)(mo)式(shi)應用(yong)到任何一(yi)個圖像中，方便(bian)從列表中選擇；

·定義鏡頭(tou)的特(te)點：鏡頭(tou)方程是當(dang)用(yong)戶使用(yong)了當(dang)前鏡頭(tou)和老款(kuan)類型提供的ΔT；

·輸出(chu)：分析(xi)結果可輸出(chu)為(wei)Excel兼容表格格式或文本格式；

·自定義(yi)輸出參(can)數：用戶可(ke)根據不同(tong)的圖像定義(yi)不同(tong)的輸出參(can)數。

時間序列計算光照(zhao)示例圖

產地：英國